A difratometria de raios X corresponde a uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais cristalinos, encontrando aplicações em diversos campos do conhecimento. É correto afirmar que, na difratometria de raios X,

A difratometria de raios X é uma técnica essencial para a análise microestrutural de materiais cristalinos, sendo amplamente utilizada em diversas áreas da ciência e engenharia. Entre as afirmações apresentadas, a alternativa correta é a B), que destaca a relação entre a difração de raios X e o espalhamento elástico da radiação incidente sobre a amostra. Esse fenômeno ocorre quando os raios X interagem com os átomos de um cristal, sendo desviados sem perda de energia, o que permite a obtenção de padrões de difração característicos da estrutura cristalina do material.

As demais alternativas apresentam informações incorretas ou imprecisas sobre a técnica. Por exemplo, a intensidade de difração (alternativa A)) é diretamente influenciada pelo número de elétrons dos átomos, pois eles são responsáveis pelo espalhamento dos raios X. Já as condições para difração (alternativa C)) dependem não apenas do comprimento de onda, mas também do ângulo de incidência e da distância interplanar, conforme descrito pela Lei de Bragg. A determinação do tamanho de cristalitos (alternativa D)) não é uma medida direta, exigindo calibração e comparação com padrões. Por fim, os planos de difração e suas propriedades (alternativa E)) são únicos para cada substância cristalina, servindo como uma "impressão digital" estrutural.

Portanto, a difratometria de raios X é uma ferramenta poderosa para o estudo de materiais, fornecendo informações valiosas sobre sua organização atômica e propriedades cristalográficas. A compreensão dos princípios físicos envolvidos, como o espalhamento elástico, é fundamental para a interpretação correta dos dados obtidos.